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首页-产物中心-粗糙度测量仪-Compact WIL白光干涉微光形貌粗糙度仪
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粗糙度测量仪
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天美果冻麻花大全进口白光干涉微观形貌粗糙度仪 天美果冻麻花大全Compact WLI白光干涉微观形貌及粗糙度仪是用于记录3D形貌光学测量技术,其分辨率高达纳米级。测量点平行采集和处理,大面积的高度信息可以在很短时间内采集。研究和质量管理过程中的典型应用有:物体表面的不同粗糙度特性(晶圆结构、镜面、玻璃、金属等)、确定高度变化以及曲面的精密测量(如微透镜等)。
更新日期:2024-04-24
型号:Compact WIL
访问次数:227
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