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天美果冻麻花大全进口白光干涉微观形貌粗糙度仪

天美果冻麻花大全Compact WLI白光干涉微观形貌及粗糙度仪是用于记录3D形貌光学测量技术，其分辨率高达纳米级。测量点平行采集和处理，大面积的高度信息可以在很短时间内采集。研究和质量管理过程中的典型应用有：物体表面的不同粗糙度特性（晶圆结构、镜面、玻璃、金属等）、确定高度变化以及曲面的精密测量（如微透镜等）。

奥尝滨白光干涉传感器特点：

直接3D测量 非常快速 高精度，分辨率0.1nm 2.5x~100x干涉镜头 50x以上干涉镜头用于高反射表面 集成拼接功能 测量范围最大400µm 适用于所有材料  高速压电陶瓷Z轴 2百万或5百万像素摄像头(根据测量需求配置) Trimos提供基于WLI技术的先进解决方案并通过  Trimos Nanoware测量软件对整个测量过程进行控制和分析。 Trimos在本领域进行了广泛的研究并积累了丰富的经验，因而能提供高效、稳定、精确的分析算法。

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天美果冻麻花大全罢搁-厂颁础狈微观形貌光学粗糙度测量仪，广泛应用于高精密微观表面检查。与传统非接触测量技术相比，测量速度快，对振动不敏感，实现叁维形貌纳米级测量。模块化的设计理念，可配置色谱共焦传感器，白光干涉传感器。传感器直接更换，方便快捷，满足不同的应用领域。即可用于计量单位和材料科学研发实验室，也广泛应用在工业制造领域：汽车、航天、航空、表面涂层、医疗产物、微型电机系统、半导体等行业。