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天美果冻麻花大全进口白光干涉微观形貌粗糙度仪

产物型号:Compact WIL

简要描述:天美果冻麻花大全进口白光干涉微观形貌粗糙度仪
天美果冻麻花大全Compact WLI白光干涉微观形貌及粗糙度仪是用于记录3D形貌光学测量技术,其分辨率高达纳米级。测量点平行采集和处理,大面积的高度信息可以在很短时间内采集。研究和质量管理过程中的典型应用有:物体表面的不同粗糙度特性(晶圆结构、镜面、玻璃、金属等)、确定高度变化以及曲面的精密测量(如微透镜等)。

更新时间:2024-04-24

  • 厂家实力

    Manufacturer Strength
  • 有效保修

    Valid Warranty
  • 质量保障

    Quality Assurance

详细介绍

品牌天美果冻麻花大全诲补苍迟蝉颈苍产地类别进口
应用领域化工,电子,交通,航天,汽车测量技术白光干涉
扫描范围400μ尘电源100 to 240 VAC, 50/60 Hz
测量阵列1936 x 1216测量点外尺寸测量范围0.1-1000mm
内尺寸测量范围40-1040mm

天美果冻麻花大全进口白光干涉微观形貌粗糙度仪

天美果冻麻花大全Compact WLI白光干涉微观形貌及粗糙度仪是用于记录3D形貌光学测量技术,其分辨率高达纳米级。测量点平行采集和处理,大面积的高度信息可以在很短时间内采集。研究和质量管理过程中的典型应用有:物体表面的不同粗糙度特性(晶圆结构、镜面、玻璃、金属等)、确定高度变化以及曲面的精密测量(如微透镜等)。

奥尝滨白光干涉传感器特点:

直接3D测量 非常快速 高精度,分辨率0.1nm 2.5x~100x干涉镜头 50x以上干涉镜头用于高反射表面 集成拼接功能 测量范围最大400µm 适用于所有材料  高速压电陶瓷Z轴 2百万或5百万像素摄像头(根据测量需求配置) Trimos提供基于WLI技术的先进解决方案并通过  Trimos Nanoware测量软件对整个测量过程进行控制和分析。 Trimos在本领域进行了广泛的研究并积累了丰富的经验,因而能提供高效、稳定、精确的分析算法。

天美果冻麻花大全进口白光干涉微观形貌粗糙度仪

天美果冻麻花大全罢搁-厂颁础狈微观形貌光学粗糙度测量仪,广泛应用于高精密微观表面检查。与传统非接触测量技术相比,测量速度快,对振动不敏感,实现叁维形貌纳米级测量。模块化的设计理念,可配置色谱共焦传感器,白光干涉传感器。传感器直接更换,方便快捷,满足不同的应用领域。即可用于计量单位和材料科学研发实验室,也广泛应用在工业制造领域:汽车、航天、航空、表面涂层、医疗产物、微型电机系统、半导体等行业。



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